IRSTAR P系列是基于镜反射的红外光谱仪附件，用于测量薄膜、镜面、反射基板和测量基板材料上的单分子层。只需将样品放在配件的顶部，即可快速获得反射光谱。30度和45度镜反射非常适合通过镜面反射测量相对较厚的薄膜。
技能性能：
1.可用于光学镜面反射率测量、镜面材料表面薄膜分析等；
2.30度或45度入射角设计；
3.16mm、10mm、8mm、6mm光圈可选；
4.高光透过率光学设计，无需镜面调节，部分机型可达透射信号值的85%以上。
